網(wǎng)站首頁(yè) >> 新聞中心 >> 手機(jī)需要做的力學(xué)測(cè)試,跌落試驗(yàn)機(jī)等
手機(jī)需要做的力學(xué)測(cè)試,跌落試驗(yàn)機(jī)等
更新時(shí)間：2013-05-30 點(diǎn)擊次數(shù)：3106次
任何一款手機(jī)新品的，都需要經(jīng)過(guò)授權(quán)檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測(cè)試。這些測(cè)試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及部分部件的壽命試驗(yàn)。
在目前的標(biāo)準(zhǔn)文件中，對(duì)環(huán)境試驗(yàn)所規(guī)定的環(huán)境條件通常比手機(jī)使用所處的環(huán)境要嚴(yán)酷的多，并且更有代表性。.asLi.由于我國(guó)幅員遼闊，地域廣大，南北溫差大，因而每一種手機(jī)都要經(jīng)過(guò)-10℃和+55℃各4h的工作溫度試驗(yàn)；還要進(jìn)行溫度+40℃、相對(duì)濕度92%Rh、連續(xù)48h左右的恒溫恒濕試驗(yàn)，試驗(yàn)后射頻指標(biāo)和功能均需符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這三項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)M手機(jī)在存儲(chǔ)或使用過(guò)程中可能遇到的氣候環(huán)境條件，考察手機(jī)在這些環(huán)境條件中外殼材料是否發(fā)生硬化或脆化導(dǎo)致出現(xiàn)裂紋，電子器件（電阻、電容等）性能是否改變，溫度梯度不同和不同材料的溫度變化系數(shù)是否導(dǎo)致電子線路的穩(wěn)定性發(fā)生變化，是否會(huì)發(fā)生潮氣與電路板相互作用產(chǎn)生腐蝕層等，用于評(píng)價(jià)手機(jī)在低溫、高溫、濕熱情況下整體性能是否會(huì)下降。
手機(jī)還需要在隨機(jī)振動(dòng)條件下進(jìn)行性能測(cè)試，在跌落高度為1.0m、每個(gè)面向下跌落2次、6面共計(jì)12次跌落在剛性表面上的跌落試驗(yàn)后進(jìn)行功能檢查。手機(jī)是隨身攜帶的產(chǎn)品，而人又經(jīng)常不斷地移動(dòng)，因此在振動(dòng)條件下進(jìn)行在線性能測(cè)試是為了考察手機(jī)在移動(dòng)的環(huán)境中能否正常工作，而跌落試驗(yàn)是為了檢驗(yàn)手機(jī)對(duì)于用戶(hù)的意外使用不當(dāng)是否有一定的保護(hù)性。
除此之外，直板手機(jī)需對(duì)按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)，折疊或滑蓋手機(jī)除需做按鍵壽命試驗(yàn)外，還需進(jìn)行翻蓋或滑蓋壽命試驗(yàn)（:），要求按鍵壽命10萬(wàn)次，翻蓋或滑蓋5萬(wàn)次（這相當(dāng)于一部手機(jī)每天接打50次，連續(xù)使用約3年），此后測(cè)試手機(jī)的功能是否正常。上述試驗(yàn)需持續(xù)較長(zhǎng)時(shí)間，只有通過(guò)這些試驗(yàn)全部合格的樣品才能獲得通過(guò)。
綜上所述：手機(jī)的各類(lèi)檢測(cè)設(shè)備主要有，恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、跌落試驗(yàn)機(jī)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、手機(jī)翻蓋試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)滑蓋試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)微跌試驗(yàn)機(jī)等等。
